FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測試儀
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FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測試儀的詳細資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測試儀 一.功能描述: 四點(diǎn)探針標準測試方法,采用步進(jìn)系統自動(dòng)控制探頭與樣品接觸,減少人為因素對測試結果的影響;參照A.S.T.M 標準;測量方塊電阻、電阻率、電導率數據、PC軟件采集和數據處理實(shí)現自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式,同一位置的重復測試或多點(diǎn)的面電阻測量,報表輸出數據統計分析;提供標準校準電阻件.
FT-3120 系列半自動(dòng)四探針測試儀 晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量;選擇性發(fā)射極擴散片;表面鈍化片;交叉指樣PN結擴散片;新型電極設計,如電鍍銅電阻測量等;半導體材料分析,鐵電材料,納米材料,太陽(yáng)能電池,LCD,OLED,觸摸屏等.
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